用于可靠分析的火花直读光谱(OES)

火花直读光谱(OES)是最可靠、最成熟的分析技术，用于测定金属及其合金元素的质量分数或鉴别（材料可靠性鉴别，PMI）。我们的火花直读光谱仪满足金属行业的最高使用需求，从生产控制到研发，从对进出料的检测到废料分拣等。

火花直读光谱法(OES)的优点是分析时间短，精度高，即使在低元素含量时也是如此。测量速度与手持X射线荧光分析仪(XRF)的速度一样快：许多测量只需几秒钟。与XRF手持分析仪相比，无需特殊培训或辐射防护证明。经过简短的介绍说明，我们的火花直读光谱便可安全、方便地使用。

由于灵敏度不足，手持XRF分析仪无法完全胜任低含量元素如碳、硫、磷、硼、锂、铍、钙、硅、镁和铝等的分析。而火花直读光谱技术则能够满足更精确的测量。

然而，对这些元素的精确分析对于许多钢铁合金和非铁合金的材料可靠性鉴别(PMI)至关重要。例如，合金316(1.4401)和316L(1.4404)只能通过它们的碳含量来区分。

在具有火花激励的发射光谱仪(OES)中，通过电能在两个电极之间产生电弧或火花(ARC/SPARK)。样品本身作为电极之一。引入的能量使样品材料蒸发，释放的原子和离子被加速的电子激发。

高能级的粒子释放的光辐射被引导到光学系统中，被分光系统分离成为其独特的光谱分量。样品中所包含的每种元素会发射多个波长，因此可以通过光敏检测器被转换成数字信号。以这种方式测量的辐射强度与样品中元素的浓度成比例。根据已知的不同元素成分和浓度含量的参考材料(CRMs)，将测量的辐射强度和浓度转换成数学函数。由此确定的数学关系允许将来自未知样品的辐射能量转换为元素浓度。

我们的仪器已优化用于金属生产、金属加工及金属回收。与传统的手持仪器相比，我们的火花直读光谱仪能够精确地分析低原子序数的元素，如C、P、S、B、Li、Be、Ca、Si、Mg、Al，以及在几秒钟内测定双相不锈钢种的氮。直观的软件、简单的数据导出、创新的云服务（选配）、简便的操作，使我们的仪器成为完美的解决方案，在每个工作环境中都能轻松、可靠地使用。